求助｜光模块高低温循环测试，TEC 控温反复超差怎么解决？

光模块高低温测

近期在批量做光模块高低温循环可靠性测试，
遇到一个很头疼的问题：
常温工况正常，一旦进入高温 / 低温极限环境，TEC 控温就容易超差、来回震荡。

排查了散热、测温探头、供电干扰几个方向，问题还是反复出现。
分析下来大概率是：

• 温控算法对变温环境适配性差；
• TEC 负载匹配不合理，冷热切换响应滞后；
• 长时间连续工作，热端散热冗余不够。
  

想问下圈内做器件测试的前辈：

• 宽温循环测试，TEC 控制逻辑要怎么优化才能减少震荡？
• 针对小型光器件、激光器这种小负载，是不是要用专用定制温控方案？
• 长期 7×24h 老化测试，TEC 系统该怎么选型降低故障率？
  

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