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标题: 全新的测试前景： 400G 和新测试革命 [查看完整版帖子] [打印本页]

时间: 2021-12-5 10:19

作者: shunchangli 标题: 全新的测试前景： 400G 和新测试革命

简介
一直到 100G 推出为止，验证和测试客户侧光模块的任务都相对简单。可通过一个“测试”渠道来操作光学模块，然后测量出对应的比特误码率 (BER)，并将其用作通过/失败限制。大多数情况下，在一个典型测量期间得到的结果应该是没有错误的。相比之下，400G 客户侧光模块已经从非归零 (NRZ) 转变为基于 PAM-4（脉冲幅度调制-4）的调制，并且现在还为所有物理媒质相关子层 (PMD)使用前向纠错 (FEC)。这种进步使得光学模块测试和验证的复杂程度大大增加。误码统计（及根本原因）和 FEC 特征之间的关系非常密切，因此不再使用简单的通过/失败限制。本文论述 400G 光学器件所带来的全新挑战，以及它们要求一种怎样的
全新测试和验证理念。这种新方法将提高不良光学器件被检出而良好光学器件通过检测的概率，而且不会明显增加测试负担。
<待续>

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