测试组 | 光纤衰减性能(1550nm)、ODF光纤连接器插入损耗指标测试,要求全部测试; PMD指标的测试、G.652.D光纤衰减性能(1310nm)抽样不少于20%,G.654.E光纤衰减性能(1625nm)抽样不少于20%; | |
光纤熔接衰耗 | ODTR法 | 中继段内所有熔接接头损耗双向平均值的平均值≤0.04dB,其中单个熔接接头损耗最大双向平均值不大于0.08dB |
中继段新敷设光缆最大衰减系数(1550nm) | ODTR法 | G.652.D光纤:0.22dB/km, G.654.E光纤:0.20dB/km, |
中继段新敷设光缆最大衰减系数 (1310nm) | ODTR法 | G.652.D光纤: ≤0.36dB/km |
中继段新敷设光缆最大衰减系数 (1625nm) | ODTR法 | G.654.E光纤: ≤0.23dB/km |
1550nm偏振模色散链路值 | ≤0.10ps/ ![]() | |
ODF光纤活接头插入损耗检测 | 采用ODTR+长尾纤(无接头,长度不小于1km)测试损耗 | ≤0.5dB |
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