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标题:
芯片IC高温工作寿命试验之JEDEC JESD22-A108资料分享
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时间:
2024-3-19 19:39
作者:
zhjj913
标题:
芯片IC高温工作寿命试验之JEDEC JESD22-A108资料分享
纯干货,希望大家能用到,谢谢
附件:
JESD22-A108F.pdf
(2024-3-19 19:38, 105.07 KB) / 下载次数 4
https://www.txrjy.com/forum.php?mod=attachment&aid=NjI0NzY4fDk0ZTk3MmI2fDE3NTc0NTM4OTF8MHww
时间:
2025-8-5 13:35
作者:
abcxiaohugo123
thanks,1024
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