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标题: [求助] 请问测试E1芯片的抖动容限时，出现跌落现象是什么原因 [查看完整版帖子] [打印本页]

时间: 2009-9-8 09:17

作者: genghis 标题: [求助] 请问测试E1芯片的抖动容限时，出现跌落现象是什么原因

E1芯片在测试抖动时，会出现如图所示的跌落现象。不知道是什么原因导致的这个问题，哪位可以帮忙分析下。

附件: [E1抖动跌落图] 1.jpg (2009-9-8 09:17, 955.42 KB) / 下载次数 5
https://www.txrjy.com/forum.php?mod=attachment&aid=NjIyODZ8N2ExYjgxMmN8MTc1MzU3MzMxNXwwfDA%3D

时间: 2009-9-8 09:27

作者: laoliu10

是在这个频点周围抗干扰能力不行，或者锁相环锁不住了。。

时间: 2009-9-8 10:41

作者: genghis 标题: 回复 2# 的帖子

但是每次测试时频点会有不同，是随机出现的。这次是这个频点跌落，下次又换成另一个频点。没有任何规律。

时间: 2009-9-8 10:57

作者: genghis 标题: 回复 2# 的帖子

我们用安捷伦的37718A测试会有跌落，但是用ANRITSU的 MP1570A则可以通过E1 Jitter Tolerance 的测试。
查了一下相关国家标准，两种仪器都可以作为标准仪器。看了仪器的测试结果，两者测试的频点略有不同。
现在就不知道到底是什么问题啦，按照哪个仪器为标准呢？

时间: 2009-9-8 11:17

作者: genghis

这个问题已经困扰了一个月了，项目已经损失至少二十万了。

时间: 2009-9-8 11:28

作者: zoloss

硬件的东东，不太懂啊，顶一顶，期待高手高手高高手出现。

芯片抖动，不知道和偶们SDH信号的抖动是不是一样……

时间: 2009-9-8 13:36

作者: genghis

与SDH类似，我们用的是PDH的，E1芯片。

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