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标题: PHY芯片测试模式2,3 [查看完整版帖子] [打印本页]

时间: 2011-1-22 21:34

作者: 771771 标题: PHY芯片测试模式2,3

PHY有四种测试模式，其中测试模式2,3因为大部分厂家未引出TX_TCLK信号，因此采用测量MDI差分对的方法进行测量，但这种测量结果只具有参考意义，改变测量参数就能得到不同的结果，有没有跟好的测试方法，或者可靠地测量指标呢？

时间: 2011-2-8 10:54

作者: 771771

自己看了一下802.3，没有找到什么解释。不知道哪位老大能解释一下呢？

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