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标题: 关于LTE上行throughput的测试的问题 [查看完整版帖子] [打印本页]

时间: 2012-9-26 13:16

作者: 哈特虎 标题: 关于LTE上行throughput的测试的问题

LTE上行throughput的测试中，上行信号源的Trigger source设置中有一个External Delay的选项，哪位大虾知道是什么含义啊？为什么要设置为特定值后才能测通呢？
求高手指点，多谢！！

时间: 2012-9-29 14:39

作者: mtnh

测试PC把测试向量参数同时送给BCU和信号发生器，BCU在收到测试向量参数后会产生触发脉冲，信号发生器接到脉冲后才能触发测试向量波形给RRH，所以信号发生器external delay应该是BCU从收到测试向量参数到产生信号发生器的触发脉冲的处理时间，应该是一个ms级的时间。

时间: 2012-10-8 09:20

作者: 哈特虎

受教了，确实是一个ms级的时间。但是不同的测试软件，信号发生器需要设置不同的delay时间；那么这个可能是什么原因呢？是因为不同的测试软件采用的测试向量参数不同导致BCU的接收时间不同吗？

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