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标题: TD-LTE芯片测试逾半不理想规模试验遇新挑战 [查看完整版帖子] [打印本页]

时间: 2012-12-4 13:36

作者: wangzixiaoling 标题: TD-LTE芯片测试逾半不理想规模试验遇新挑战

配合TD-LTE扩大规模试验而进行的首次TD-LTE终端招标结果日前出炉，面向16家企业进行包括手机在内的3万多部终端的采购，即日起面向内部专业用户发放。　　但除了平板电脑尚未符合中国移动的TD-LTE终端采购标准而未入选首批招标结果之外，TD-LTE的芯片能力尚未完全达到商用要求，甚至逾半数参测企业的芯片产品通过率低于50%。

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