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标题: MTIE、TDEV数据分析说明  [查看完整版帖子] [打印本页]

时间:  2015-1-19 15:40
作者: percherry     标题: MTIE、TDEV数据分析说明

在时频测试领域中,漂移是影响时钟信号精度的重要指标,因此对时钟信号漂移的分析和测量非常重要。漂移程度主要是通过TIE(时间间隔误差)的方法来测量,并使用MTIE(最大时间间隔误差) 和TDEV(时间偏差)来评估的。
我们通过专用的TestManagerPro数据分析软件,可对测试记录进行专业的数据分析及模板比对,统计分析时钟同步信号的长期漂移性能,可计算MTIE、TDEV,并按照G.811、G.812、G.813、G.823、G.8261等模板进行比对,并生成测试报表。
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时间:  2015-1-30 10:17
作者: percherry


时间:  2015-3-25 15:48
作者: percherry

数据分析界面
1  TIE分析界面
TIE数据分析界面-深圳夏光.jpg
图1       TIE数据分析界面
TIE(Time Interval Error):时间间隔误差,在一段规定时间内,测量到的数字信号的各有效瞬间时相对其理想时间位置的积累偏移,TIE值代表被测时钟与参考源的时间偏差。


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时间:  2015-3-25 15:49
作者: percherry

2  MTIE分析及比对界面
MTIE数据分析界面 -深圳夏光.jpg
图2       MTIE数据分析界面
MTIE(Maximum Time Interval Error):最大时间间隔误差,是被测试时钟信号(与参考时钟比较)在指定的观测时间t中的最大时间间隔误差(两峰值之间)


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时间:  2015-3-25 15:50
作者: percherry

3  TDEV分析及比对界面
TDEV数据分析界面 -深圳夏光.jpg
图3       TDEV数据分析界面
TDEV(Time deviation):时间偏差,TDEV值是对比整体时间的相位误差的量度,如统计值。TDEV的分析提供了关于相位变化的频谱方面的信息


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时间:  2015-3-25 15:52
作者: percherry

适用于深圳夏光时频测试系列仪表
深圳夏光XG7050精密时间综合分析仪.jpg



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