[我要提问] PHY芯片测试模式2,3 [复制链接]

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发表于 2011-1-22 21:34:14 |只看该作者 |倒序浏览

PHY有四种测试模式，其中测试模式2,3因为大部分厂家未引出TX_TCLK信号，因此采用测量MDI差分对的方法进行测量，但这种测量结果只具有参考意义，改变测量参数就能得到不同的结果，有没有跟好的测试方法，或者可靠地测量指标呢？

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