正如前面所指出的是,目前ASML的EUV光线采用的是通过蔡司的以硅与钼制成的特殊镀膜反射镜,来修正光的前进方向,每一次反射可能将会损失约30%能量,这也意味着如果经过10面反射镜,可能只剩下不足3%的能力。而ASML的High NA EUV如果采用了相对较少的反射镜,那么可以作用于晶圆表面光刻胶的EUV光源功率更高。但是,如果反射镜更少,可能就很难纠正镜头误差。
EUV光刻可以写入纳米结构,也可以测量它们。戴着护目镜的 Stefan Witte 教授正在 ARCNL 工作,主要研究法国物理学家 Anne L'Hullier 的诺贝尔奖获奖研究的应用。她发现,超短光脉冲就像乐器一样,在与其他材料接触时会产生泛音。因此,可以利用这种现象来检查晶圆的质量,即使在生产过程中也是如此。
诺贝尔奖得主 Anne l'Huillier 在费尔德霍芬的 ASML 上表示:“我认为他们要求的成就是我们无法实现的。”