40G密集波分复用系统中积分法测试信噪比

likunyouyuan

摘要：长距离、高速率（单波40 Gb/s）DWDM（密集波分复用）技术在国家干线、省干线系统应用中，为满足端到端信号质量要求，原先用于中短距离系统的NRZ（非归零）码型逐渐被RZ（归零）、ODB（光双二进制）、DQPSK（差分四相相移键控）等码型替代。新的码型具有更宽的信号光谱宽度，这导致用传统光谱仪无法准确测试信号的光信噪比（OSNR）。为满足DWDM工程测试需求，介绍一种新的“积分法”测试光信噪比的方法，并分析了该方法的应用场景。

1 积分法测试光信噪比

随着长距高速率DWDM系统的普遍应用和编码技术的创新，NRZ（非归零）码型（主要用于中短距离系统）逐渐被RZ（归零）、ODB（光双二进制）、DQPSK（差分四相相移键控）等码型取代，用于更长距离的系统传输。典型的RZ 码信号占空比约为传统NRZ码的一半，同时具有更大的信号光谱宽度。在50 GHz波长间隔系统中，信号间隔仅有0.4 nm，加上RZ 码较宽的谱宽，相邻信号靠得就更近了。因此对于50 GHz 波长间隔系统，在测试光信噪比时会造成一定的误差。而ODB、DQPSK等码型与RZ 码型一样，在50 GHz 波长间隔系统中如果通过直接扫描的方式测试光信噪比，也会有这种现象。从图1 可以看出， 高速率波分采用的DQPSK 码型（C_00031）的谱宽大于传统RZ码型的谱宽。根据上述分析，对于50 GHz 波长间隔RZ、ODB、DQPSK等系统，使用传统的光谱仪无法准确测试光信噪比（OSNR）。针对50 GHz 波长间隔的长距离高速DWDM系统，为了准确评估系统传输性能，需要使用一种精确测试光信噪比的方法———积分法。